1 Silicon Damage Response Function Derivation and Verification: Assessment of Impact on ASTM Standard E722 [科技报告]
作者:Depriest, Kendall
发布日期:2016
关键词:RESPONSE FUNCTIONS;SILICON;...
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2 FY 2016 Status Report: CIRFT Testing Data Analyses and Updated Curvature Measurements [科技报告]
作者:Wang, Jy-An John, Wang, Hong
关键词:BENDING;DATA ANALYSIS;...
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